偏光显微镜是研究晶体薄片的重要设备

偏光显微镜是研究晶体薄片的重要设备

     在偏光显微镜下鉴定透明矿物时，所遇到的都是矿物晶体不同方向的切面(即不同方向的光率体切面)。光波垂直这类斜交切面入射(陈光轴和主轴以外的任意方向)时，发生双折射，分解形成个偏光。其振动方向分别平行椭圆长短半径方向;折射率值分别等于长短半径。

      双折射率等于长短半径之差，其大小变化介于零与最大值之间。光率体的主轴与晶体结晶轴之间的关系称光方位。光方位因晶体所属的晶系不同而异。破石机生产厂家中级晶族晶体的光方位：一轴晶光率体是一个旋转椭球体，其旋转轴(光轴)与晶体的高次对称轴一致(图 )。三斜晶系的对称程度最低，只有 个对称中心与光率体的对称中心相当。

         因而三斜晶系晶体的光方位是光率体的 个主轴与晶体的个晶轴均斜交，其斜交角度因矿物不同而不同(图 )。偏光显微镜是研究晶体薄片光学质的重要仪。它比一般显微镜复杂，最主要的区别是装有 个偏光镜。其中一个偏光镜在载物台之下，称下偏光镜(起偏镜)，自然光通过下偏光镜后就变成偏光;另一个在物镜之上的镜筒中，称上偏光镜(分析镜)。